SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
INTRODUCTION TO SCANNING PROBE MICR | ||
| INTRODUCTION TO SCANNING PROBE MICR 112,10 € Taylor & Francis Inc Sivumäärä: 384 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 2021, 31.12.2023 (lisätietoa) This book covers the wide range of methods, which have become standard tools in every biology, material science, surface science, and optics laboratory: those that measure tip-sample interactions with forces and those that measure tip-sample interactions with currents. It emphasizes the fundamentals that may be applied to basic through advanced applications, including such topics as van der Waals forces between macroscopic objects, strain-stress analysis, continuum deformation theory, friction theory at the microscopic level, control theory, and an introduction to surface states and surface reconstruction. Tulossa! 31.12.2023 Kustantajan ilmoittama saatavuuspäivä on ylittynyt, selvitämme saatavuutta. Voit tehdä tilauksen heti ja toimitamme tuotteen kun saamme sen varastoomme. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781466588011 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |