Okfalisa Okfalisa | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

THE DIAGNOSTICS SYSTEM FOR MANUFACTURING PROCESS PROBLEM

Tekijä: Okfalisa Okfalisa; Naomie Salim; Wong Kuan Yew
Kustantaja: VDM Verlag (2010)
Saatavuus: Noin 11-14 arkipäivää

EUR 97,90

INTRODUCING KNOWLEDGE MANAGEMENT METRICS MODEL

Tekijä: Okfalisa Muhairi; Rose Alinda Alias; Kuan Yew Wong
Kustantaja: LAP Lambert Academic Publishing (2012)
Saatavuus: Noin 11-14 arkipäivää

EUR 97,70

The Diagnostics System for Manufacturing Process Problem

Okfalisa Okfalisa, Naomie Salim, Wong Kuan Yew

97,90 €

VDM Verlag
Sivumäärä: 276 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 14.10.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 11-14 arkipäivässä

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783639302042

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Computers » Information Technology

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste