SULJE VALIKKO

avaa valikko

O.M. Uy Johns | Akateeminen Kirjakauppa

OPTICAL SYSTEM CONTAMINATION - EFFECTS, MEASUREMENTS AND CONTROL VIII

Optical System Contamination - Effects, Measurements and Control VIII
Philip T Chen; O.M. Uy Johns
SPIE Press (2002)
Pehmeäkantinen kirja
223,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Optical System Contamination - Effects, Measurements and Control VIII
223,00 €
SPIE Press
Sivumäärä: 282 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: New ed.
Julkaisuvuosi: 2002, 30.09.2002 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Optical System Contamination - Effects, Measurements and Control VIII
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819445414
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste