Nathan James Speer | Akateeminen Kirjakauppa

MEASURING THE ELECTRONIC STRUCTURE OF ATOMICALLY UNIFORM SILVER FILMS GROWN ON SILICON USING ANGLE-RESOLVED PHOTOEMISSION SPECTR

Nathan James Speer
Proquest, Umi Dissertation Publishing (2011)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja

130,10 €

Measuring the Electronic Structure of Atomically Uniform Silver Films Grown on Silicon Using Angle-Resolved Photoemission Spectr

Nathan James Speer

130,10 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 102 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243557575

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Science » Life Sciences » Biophysics

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste