SULJE VALIKKO

avaa valikko

Mohammad Tehranipoor | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 10 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability
Mohammad Tehranipoor (ed.)
Springer (2007)
Kovakantinen kirja
134,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability
Mohammad Tehranipoor (ed.)
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
134,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Introduction to Hardware Security and Trust
Mohammad Tehranipoor (ed.); Cliff Wang (ed.)
Springer (2011)
Kovakantinen kirja
143,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor; Ke Peng; Krishnendu Chakrabarty
Springer (2011)
Kovakantinen kirja
101,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Circuit Authentication : Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Mohammad Tehranipoor; Hassan Salmani; Xuehui Zhang
Springer (2013)
Kovakantinen kirja
121,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Counterfeit Integrated Circuits : Detection and Avoidance
Mark Tehranipoor (Mohammad); Ujjwal Guin; Domenic Forte
Springer (2015)
Kovakantinen kirja
134,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Introduction to Hardware Security and Trust
Mohammad Tehranipoor (ed.); Cliff Wang (ed.)
Springer (2014)
Pehmeäkantinen kirja
116,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor; Ke Peng; Krishnendu Chakrabarty
Springer (2014)
Pehmeäkantinen kirja
113,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Circuit Authentication - Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Mohammad Tehranipoor; Hassan Salmani; Xuehui Zhang
Springer International Publishing AG (2016)
Pehmeäkantinen kirja
104,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Counterfeit Integrated Circuits : Detection and Avoidance
Mark Tehranipoor (Mohammad); Ujjwal Guin; Domenic Forte
Springer (2016)
Pehmeäkantinen kirja
111,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability
134,60 €
Springer
Sivumäärä: 408 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2007, 10.12.2007 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Frontiers in Electronic Testing 37

Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.


Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.



Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliabilityzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780387747460
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste