SULJE VALIKKO

avaa valikko

Mohammad Tehrani | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 14 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Emerging Nanotechnologies - Test, Defect Tolerance, and Reliability
Mohammad Tehranipoor
Springer-Verlag New York Inc. (2007)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Emerging Nanotechnologies : Test, Defect Tolerance, and Reliability
Mohammad Tehranipoor (ed.)
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Introduction to Hardware Security and Trust
Mohammad Tehranipoor (ed.); Cliff Wang (ed.)
Springer (2011)
Kovakantinen kirja
138,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor; Ke Peng; Krishnendu Chakrabarty
Springer-Verlag New York Inc. (2011)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Performance of Steel Fiber-Reinforced Concrete in Beam-Column Connections.
Fariborz Mohammadi Tehrani
Proquest, Umi Dissertation Publishing (2011)
Pehmeäkantinen kirja
120,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Circuit Authentication : Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Mohammad Tehranipoor; Hassan Salmani; Xuehui Zhang
Springer (2013)
Kovakantinen kirja
117,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Counterfeit Integrated Circuits : Detection and Avoidance
Mark Tehranipoor (Mohammad); Ujjwal Guin; Domenic Forte
Springer (2015)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Introduction to Hardware Security and Trust
Mohammad Tehranipoor; Cliff Wang
Springer-Verlag New York Inc. (2014)
Pehmeäkantinen kirja
112,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
Mohammad Tehranipoor; Ke Peng; Krishnendu Chakrabarty
Springer-Verlag New York Inc. (2014)
Pehmeäkantinen kirja
109,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Circuit Authentication : Hardware Trojans and Counterfeit Detection
Mohammad Tehranipoor; Hassan Salmani; Xuehui Zhang
Springer (2016)
Pehmeäkantinen kirja
100,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Counterfeit Integrated Circuits : Detection and Avoidance
Mark Tehranipoor (Mohammad); Ujjwal Guin; Domenic Forte
Springer (2016)
Pehmeäkantinen kirja
107,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Pseudo Random Arterial Modulation (PRAM)
Taei-Tehrani; Mohammad Reza
LAP Lambert Academic Publishing (2012)
Pehmeäkantinen kirja
83,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Osteoporosis Prevention Program - Behavior Model and Exercise
Maryam Jamshidian Tehrani; Zaitun Yassin; Aazam Doustmohammadian
LAP Lambert Academic Publishing (2013)
Pehmeäkantinen kirja
84,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Virtual Fundamental Cycles in Symplectic Topology
John W. Morgan; Dusa McDuff; Mohammad Tehrani; Kenji Fukaya; Dominic Joyce
American Mathematical Society (2019)
Kovakantinen kirja
134,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Emerging Nanotechnologies - Test, Defect Tolerance, and Reliability
129,90 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 408 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2008
Julkaisuvuosi: 2007, 10.12.2007 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Frontiers in Electronic Testing 37
Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability covers various technologies that have been developing over the last decades such as chemically assembled electronic nanotechnology, Quantum-dot Cellular Automata (QCA), and nanowires and carbon nanotubes. Each of these technologies offers various advantages and disadvantages. Some suffer from high power, some work in very low temperatures and some others need indeterministic bottom-up assembly. These emerging technologies are not considered as a direct replacement for CMOS technology and may require a completely new architecture to achieve their functionality.


Emerging Nanotechnologies: Test, Defect Tolerance and Reliability brings all of these issues together in one place for readers and researchers who are interested in this rapidly changing field.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Emerging Nanotechnologies - Test, Defect Tolerance, and Reliabilityzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780387747460
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste