SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Michael D. Meehan | Akateeminen Kirjakauppa

YIELD AND RELIABILITY IN MICROWAVE CIRCUIT AND SYSTEM DESIGN

Yield and Reliability in Microwave Circuit and System Design
Michael D. Meehan; John Purviance
Artech House Publishers (1993)
Kovakantinen kirja
120,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Yield and Reliability in Microwave Circuit and System Design
120,90 €
Artech House Publishers
Sivumäärä: 300 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1993, 01.12.1993 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Artech House Microwave Library
This reference is for anyone involved with microwave design. It tackles the practical aspects of microwave statistical design and introduces statistical design techniques that encompass many different applications. This presentation focuses on two main example areas - microwave circuits and systems - but any application with a complex relation between design variables and performance and design variable uncertainty can benefit from statistical design.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Yield and Reliability in Microwave Circuit and System Designzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780890065273
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste