KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
Mario Birkholz | Akateeminen Kirjakauppa
| Thin Film Analysis by X-Ray Scattering 168,40 € Wiley VCH Sivumäärä: 378 sivua Asu: Muu digitaalinen tallenne Julkaisuvuosi: 2006, 15.05.2006 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotteella ei tuotekuvausta. Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9783527607594 Aihealue: |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |