SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
| Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology - Theory, Algorithms, and Applications 135,40 € Wiley-VCH Verlag GmbH Sivumäärä: 344 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 2014, 02.07.2014 (lisätietoa) Kieli: Englanti The main objective of this book is to present the basic theoretical principles and practical applications for the classical interferometric techniques and the most advanced methods in the field of modern fringe pattern analysis applied to optical metrology. A major novelty of this work is the presentation of a unified theoretical framework based on the Fourier description of phase shifting interferometry using the Frequency Transfer Function (FTF) along with the theory of Stochastic Process for the straightforward analysis and synthesis of phase shifting algorithms with desired properties such as spectral response, detuning and signal-to-noise robustness, harmonic rejection, etc. Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9783527411528 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |