SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
ELECTRON MICROSCOPY AND MULTISCALE MODELING : PROCEEDINGS OF THE EMMM-2007 INTERNATIONAL CONFERENCE | ||
| Electron Microscopy and Multiscale Modeling : Proceedings of The EMMM-2007 International Conference 124,30 € American Institute of Physics Sivumäärä: 300 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2008 Julkaisuvuosi: 2008, 17.04.2008 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: AIP Conference Proceedings 999 The EMMM-2007 Conference brought together leading experts in electron microscopy and materials modeling from around the world to explore how to synergistically combine atomic scale characterization and modeling to enhance the development of new materials. Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780735405196 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |