Larg H. Weiland | Akateeminen Kirjakauppa

IN-LINE CHARACTERIZATION, YIELD, RELIABILITY, AND FAILURE ANALYSIS IN MICROELECTRONIC MANUFACTURING II

Larg H. Weiland; Gudrun Kissinger
SPIE Press (2001)
Pehmeäkantinen kirja

165,00 €

In-line Characterization, Yield, Reliability, and Failure Analysis in Microelectronic Manufacturing II

Larg H. Weiland, Gudrun Kissinger

165,00 €

SPIE Press
Sivumäärä: 252 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2001, 23.04.2001 (lisätietoa)

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9780819441072

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste