LIU RUEY WEN | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

TESTING AND DIAGNOSIS OF ANALOG CIRCUIT

LIU RUEY WEN
SPRINGER (1991)
Kovakantinen kirja

145,50 €

TESTING AND DIAGNOSIS OF ANALOG CIRCUITS AND SYSTEMS

Ruey-wen Liu
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja

49,60 €

TESTING AND DIAGNOSIS OF ANALOG CIRCUIT

LIU RUEY WEN

145,50 €

SPRINGER
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1991, 30.04.1991 (lisätietoa)

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9780442259327

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste