SULJE VALIKKO

avaa valikko

Kuang-Chao Fan | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 8 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Third International Symposium on Precision Mechanical Measurements
Tekijä: Kuang-Chao Fan; Wei Gao; Xiaofen Yu; Wenhao Huang; Penghao Hu
Kustantaja: SPIE Press (2006)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   244,30
Fourth International Symposium on Precision Mechanical Measurements
Tekijä: Yetai Fei; Kuang-Chao Fan; Rongsheng Lu
Kustantaja: SPIE Press (2008)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   218,70
Seventh International Symposium on Precision Engineering Measurements and Instrumentation
Tekijä: Kuang-Chao Fan
Kustantaja: SPIE Press (2011)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   367,40
Design and Applications of Coordinate Measuring Machines
Tekijä: Kuang-Chao Fan (toim.)
Kustantaja: Mdpi AG (2016)
Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää
EUR   67,50
Precision Dimensional Measurements
Tekijä: Kuang-Chao Fan (toim.); Liang-Chia Chen (toim.)
Kustantaja: Mdpi AG (2019)
Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää
EUR   116,00
Manufacturing Metrology
Tekijä: Kuang Chao Fan; Peter Kinnell
Kustantaja: Mdpi AG (2022)
Saatavuus: Noin 13-16 arkipäivää
EUR   107,10
Proceedings of the 35th International MATADOR Conference - Formerly The International Machine Tool Design and Research Conferenc
Tekijä: Srichand Hinduja; Kuang-Chao Fan
Kustantaja: Springer London Ltd (2007)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   172,80
Proceedings of the 35th International MATADOR Conference - Formerly The International Machine Tool Design and Research Conferenc
Tekijä: Srichand Hinduja; Kuang-Chao Fan
Kustantaja: Springer London Ltd (2010)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   172,80
    
Third International Symposium on Precision Mechanical Measurements
244,30 €
SPIE Press
Sivumäärä: 964 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2006, 30.11.2006 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Third International Symposium on Precision Mechanical Measurements
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819463517
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste