SULJE VALIKKO

avaa valikko

Kimio Tatsuno | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 8 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Optical Design and Testing III
Tekijä: Yongtian Wang; Theo T. Tschudi; Jannick P. Rolland; Kimio Tatsuno
Kustantaja: SPIE Press (2007)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   219,10
Optical Design and Testing V - 5-7 November 2012 Beijing, China
Tekijä: Hendrik Paul Urbach; Yongtian Wang; Kimio Tatsuno; Hong Hua; Chunlei Du
Kustantaja: SPIE Press (2013)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   326,90
2017 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optical Systems and Modern Optoelectronic Instruments
Tekijä: Yongtian Wang; Baohua Jia; Kimio Tatsuno; Liquan Dong
Kustantaja: SPIE Press (2018)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   230,40
Optical Design and Testing VII
Tekijä: Yongtian Wang; Tina Kidger; Kimio Tatsuno
Kustantaja: SPIE Press (2017)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   283,80
Optical Design and Testing VIII
Tekijä: Yongtian Wang; Tina Kidger; Kimio Tatsuno
Kustantaja: SPIE Press (2019)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   230,50
2011 International Conference on Optical Instruments and Technology - Optical Systems and Modern Optoelectronic Instruments
Tekijä: Yongtian Wang; Yunlong Sheng; Han-Ping Shieh; Kimio Tatsuno
Kustantaja: SPIE Press (2011)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   176,80
2013 International Conference on Optical Instruments and Technology: Optical Systems and Modern Optoelectronic Instruments
Tekijä: Yongtian Wang; Xiaocong Yuan; Yunlong Sheng; Kimio Tatsuno
Kustantaja: SPIE Press (2014)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   174,20
Optical Design and Testing VI
Tekijä: Yongtian Wang; Chunlei Du; Jose Sasian; Kimio Tatsuno
Kustantaja: SPIE Press (2015)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   243,00
    
Optical Design and Testing III
219,10 €
SPIE Press
Sivumäärä: 986 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2007, 30.11.2007 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Optical Design and Testing III
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819470096
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste