Kimio Tatsuno | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 8 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

OPTICAL DESIGN AND TESTING III

Yongtian Wang; Theo T. Tschudi; Jannick P. Rolland; Kimio Tatsuno
SPIE Press (2007)
Pehmeäkantinen kirja

220,80 €

2011 INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICAL INSTRUMENTS AND TECHNOLOGY - OPTICAL SYSTEMS AND MODERN OPTOELECTRONIC INSTRUMENTS

Yongtian Wang; Yunlong Sheng; Han-Ping Shieh; Kimio Tatsuno
SPIE Press (2011)
Pehmeäkantinen kirja

178,20 €

OPTICAL DESIGN AND TESTING V - 5-7 NOVEMBER 2012 BEIJING, CHINA

Hendrik Paul Urbach; Yongtian Wang; Kimio Tatsuno; Hong Hua; Chunlei Du
SPIE Press (2013)
Pehmeäkantinen kirja

329,60 €

2013 INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICAL INSTRUMENTS AND TECHNOLOGY: OPTICAL SYSTEMS AND MODERN OPTOELECTRONIC INSTRUMENTS

Yongtian Wang; Xiaocong Yuan; Yunlong Sheng; Kimio Tatsuno
SPIE Press (2014)
Pehmeäkantinen kirja

174,20 €

OPTICAL DESIGN AND TESTING VI

Yongtian Wang; Chunlei Du; Jose Sasian; Kimio Tatsuno
SPIE Press (2015)
Pehmeäkantinen kirja

244,90 €

2017 INTERNATIONAL CONFERENCE ON OPTICAL INSTRUMENTS AND TECHNOLOGY: OPTICAL SYSTEMS AND MODERN OPTOELECTRONIC INSTRUMENTS

Yongtian Wang; Baohua Jia; Kimio Tatsuno; Liquan Dong
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

232,20 €

OPTICAL DESIGN AND TESTING VII

Yongtian Wang; Tina Kidger; Kimio Tatsuno
SPIE Press (2017)
Pehmeäkantinen kirja

286,10 €

OPTICAL DESIGN AND TESTING VIII

Yongtian Wang; Tina Kidger; Kimio Tatsuno
SPIE Press (2019)
Pehmeäkantinen kirja

230,50 €

Optical Design and Testing III

Yongtian Wang, Theo T. Tschudi, Jannick P. Rolland, Kimio Tatsuno

220,80 €

SPIE Press
Sivumäärä: 986 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2007, 30.11.2007 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus