SULJE VALIKKO

avaa valikko

Kastsuhiro Shirono | Akateeminen Kirjakauppa

ADVANCED MATHEMATICAL AND COMPUTATIONAL TOOLS IN METROLOGY AND TESTING IX

Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Ix
Franco Pavese; Markus Baer; Jean-remy Filtz; Alistair B Forbes; Leslie Pendrill; Kastsuhiro Shirono
World Scientific Publishing Co Pte Ltd (2012)
Kovakantinen kirja
177,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Ix
177,50 €
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Sivumäärä: 468 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2012, 27.03.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This volume contains original, refereed worldwide contributions. They were prompted by presentations made at the ninth AMCTM Conference held in Göteborg (Sweden) in June 2011 on the theme of advanced mathematical and computational tools in metrology and also, in the title of this book series, in testing.The themes in this volume reflect the importance of the mathematical, statistical and numerical tools and techniques in metrology and testing and, also in keeping the challenge promoted by the Metre Convention, to access a mutual recognition for the measurement standards.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology And Testing Ixzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9789814397940
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste