SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Kaimin Shih | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



X-Ray Diffraction - Structure, Principles & Applications
Kaimin Shih
Nova Science Publishers Inc (2013)
Kovakantinen kirja
305,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Environmental Materials and Waste - Resource Recovery and Pollution Prevention
Majeti Narasimha Vara Prasad; Kaimin Shih
Elsevier Science Publishing Co Inc (2016)
Pehmeäkantinen kirja
90,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
X-Ray Diffraction - Structure, Principles & Applications
305,80 €
Nova Science Publishers Inc
Sivumäärä: 248 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2013, 01.09.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
An important milestone in the history of science, the diffraction of X-rays, was observed by Max von Laue in 1912. In the last 100 years, X-ray diffraction (XRD) studies have revealed highly valuable information about many ordered atomic structures seen in a variety of common materials. The understanding of material structures opened the door to the reliable application of these materials and allowed scientific discussions about material properties and structural features to become possible. Besides playing this crucial role in history, XRD has now also successfully transformed itself into a method in the forefront of extending much of our knowledge boundaries. Written by more than 30 X-ray diffraction experts from 9 countries/regions, this book consists of 11 chapters examining the development of the XRD technique and demonstrating various new opportunities for its application. Each chapter discusses timely and important subjects surrounding the XRD technique, including the past and future of the single-crystal XRD technique and new explorations with co-ordination polymers; the very successful implementation of Rietveld refinement analysis for alloys, intermetallics, cements, and ceramics; the application of XRD in nanoparticles structure study; the methodological developments in quantifying the state of residual stress in materials; and the state-of-the-art progress in combining XRD principles with electron crystallography for structure determination.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
X-Ray Diffraction - Structure, Principles & Applicationszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781628085914
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste