Haullasi löytyi yhteensä 14 tuotettaHaluatko tarkentaa hakukriteerejä? Suosituimmat ensin Aakkosjärjestys Vuosijärjestys Viimeksi lisätyt Viimeksi julkaistut
Jose M. Sasian; Mitchell C. Ruda SPIE Press (2007) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
222,10 €
Jose M. Sasian; Richard N. Youngworth SPIE Press (2008) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
222,10 €
Jose M. Sasian; Paul K. Manhart SPIE Press (2001) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
145,90 €
Jose M. Sasian; R. John Koshel SPIE Press (2002) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
163,70 €
Jose M. Sasian; Paul K. Manhart SPIE Press (2002) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
237,70 €
Jose M. Sasian; R. John Koshel; Paul K. Manhart; Richard C. Juergens SPIE Press (2004) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
222,10 €
Jose M. Sasian; R. John Koshel; Richard C. Juergens SPIE Press (2005) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
222,10 €
Jose M. Sasian; Mary G. Turner SPIE Press (2006) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
222,10 €
Jose M. Sasian SPIE Press (2010) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
141,70 €
Jose M. Sasian SPIE Press (2011) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
154,20 €
Jose M. Sasian SPIE Press (2012) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
154,20 €
Kevin D Bell; Michael K Powers; Jose M. Sasian SPIE Press (2006) Saatavuus: Hankintapalvelu Kovakantinen kirja
163,70 €
Zhicheng Weng; Jose M. Sasian; Yongtian Wang; Zicheng Weng; Yongtian Wang SPIE Press (2002) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
404,50 €
Yongtian Wang; Zhicheng Weng; Shenghua Ye; Jose M. Sasian SPIE Press (2005) Saatavuus: Hankintapalvelu Pehmeäkantinen kirja
222,10 €
Optical System Alignment and Tolerancing
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.