John J. Friel | Akateeminen Kirjakauppa

X-RAY AND IMAGE ANALYSIS IN ELECTRON MICROSCOPY

John J. Friel; Ralf Terborg; Stefan Langner; Tobias Salge; Martin Rohde; Jana Berlin
Pro Business (2017)
Kovakantinen kirja

98,70 €

X-ray and Image Analysis in Electron Microscopy

John J. Friel, Ralf Terborg, Stefan Langner, Tobias Salge, Martin Rohde, Jana Berlin

98,70 €

Pro Business
Sivumäärä: 118 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2017, 18.04.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tulossa! 01.03.2020 Kustantajan ilmoittama saatavuuspäivä on ylittynyt, selvitämme saatavuutta. Voit tehdä tilauksen heti ja toimitamme tuotteen kun saamme sen varastoomme. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783864606748

Asiasanat:

microanalysis spectrometry EPMA SDD microprobe nanoanalysis nanoscience chemical

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste