John A. Allgair | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

METROLOGY, INSPECTION, AND PROCESS CONTROL FOR MICROLITHOGRAPHY XXII

John A. Allgair; Christopher J. Raymond
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja

229,60 €

METROLOGY, INSPECTION, AND PROCESS CONTROL FOR MICROLITHOGRAPHY XXIII

John A. Allgair; Christopher J. Raymond
SPIE Press (2009)
Pehmeäkantinen kirja

328,30 €

INSTRUMENTATION, METROLOGY, AND STANDARDS FOR NANOMANUFACTURING

Michael T. Postek; John A. Allgair
SPIE Press (2007)
Pehmeäkantinen kirja

229,60 €

INSTRUMENTATION, METROLOGY, AND STANDARDS FOR NANOMANUFACTURING II

Michael T. Postek; John A. Allgair
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja

229,60 €

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXII

John A. Allgair, Christopher J. Raymond

229,60 €

SPIE Press
Sivumäärä: 1344 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2008, 30.08.2008 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus