SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
STATISTICAL ANALYSIS AND MODELLING OF SPATIAL POINT PATTERNS | ||
| Statistical Analysis and Modelling of Spatial Point Patterns 121,90 € John Wiley & Sons Inc Sivumäärä: 560 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 2008, 18.01.2008 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780470014912 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |