Jacob Scheuer | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

SLOW LIGHT, FAST LIGHT, AND OPTO-ATOMIC PRECISION METROLOGY VIII

Selim Shahriar; Jacob Scheuer
SPIE Press (2015)
Pehmeäkantinen kirja

264,70 €

SLOW LIGHT, FAST LIGHT, AND OPTO-ATOMIC PRECISION METROLOGY X

Selim Shahriar; Jacob Scheuer
SPIE Press (2017)
Pehmeäkantinen kirja

172,40 €

STEEP DISPERSION ENGINEERING AND OPTO-ATOMIC PRECISION METROLOGY XI

Selim Shahriar; Jacob Scheuer
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

284,00 €

Slow Light, Fast Light, and Opto-Atomic Precision Metrology VIII

Selim Shahriar, Jacob Scheuer

264,70 €

SPIE Press
Sivumäärä: 277 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2015, 30.07.2015 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus