Jaber Al-Balushi | Akateeminen Kirjakauppa

RESPONSE DATA COMPRESSION TECHNIQUES IN DIGITAL CIRCUIT TESTING

Jaber Al-Balushi; Afaq Ahmad
LAP Lambert Academic Publishing (2014)
Pehmeäkantinen kirja

84,50 €

Response Data Compression Techniques in Digital Circuit Testing

Jaber Al-Balushi, Afaq Ahmad

84,50 €

LAP Lambert Academic Publishing
Sivumäärä: 96 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 11.11.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9783659239618

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » Electronics » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste