SULJE VALIKKO

avaa valikko

Hamid+Garmestani | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 5 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Hamid Garmestani; Navid Nasajpour Esfahani
Elsevier (2025)
Pehmeäkantinen kirja
136,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Applied RVE Reconstruction and Homogenization of Heterogeneous Materials
Yves Rémond; Said Ahzi; Majid Baniassadi; Hamid Garmestani
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc (2016)
Kovakantinen kirja
155,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Emerging Trends in Neuro Engineering and Neural Computation
Asim Bhatti; Kendall H. Lee; Hamid Garmestani; Chee Peng Lim
Springer Verlag, Singapore (2017)
Kovakantinen kirja
134,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Emerging Trends in Neuro Engineering and Neural Computation
Asim Bhatti; Kendall H. Lee; Hamid Garmestani; Chee Peng Lim
Springer Verlag, Singapore (2018)
Pehmeäkantinen kirja
134,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
On the Abnormal/Coarse Grain Formation in K-Monel 500 Alloy
Robert J. Reidel; Paul Reidel; Hamid Garmestani; Omar S. Es-Said
Springer International Publishing AG (2023)
Pehmeäkantinen kirja
46,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
136,20 €
Elsevier
Sivumäärä: 400 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2025, 01.11.2025 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Fundamentals of Microstructure Characterization of Materials covers a wide range of topics, methods, and fundamental information for the characterization of materials. Techniques discussed include spectroscopic ones such as electromagnetic radiation, X-ray photoelectron, atomic emission, and more. Scanning electron microscope techniques are outlined, as are sample preparation methods such as cutting, grinding and polishing, etching, and others. Microscopy fundamentals are discussed as well, with coverage of types of lenses, optical imaging formation principles, depth of field and depth of focus included. A full chapter is dedicated to statistical analysis, covering concepts such as cumulative distribution function, probability density function, and Gaussian distribution. X-ray diffraction and its application in phase analysis of materials is discussed as well.


  • Covers a wide range of concepts and techniques for accurate characterization of the microstructure of a variety of materials, including metals, ceramics, and polymers
  • Outlines spectroscopic, scanning electron microscope, X-ray diffraction, and other characterization methods
  • Discusses microscopy fundamentals, statistical analysis, and sample preparation methods


Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tulossa! Tuote ilmestyy 01.11.2025. Voit tehdä tilauksen heti ja toimitamme tuotteen kun saamme sen varastoomme. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Fundamentals of Microstructural Characterization of Materials
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780443341892
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajat
Usein kysytyt
Akateemisen Ystäväklubi
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Seuraa Akateemista
Instagram
Facebook
Threads
TikTok
YouTube
LinkedIn