SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Giuseppe La Rosa | Akateeminen Kirjakauppa

RELIABILITY WEAROUT MECHANISMS IN ADVANCED CMOS TECHNOLOGIES

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
Alvin W. Strong; Ernest Y. Wu; Rolf-Peter Vollertsen; Jordi Sune; Giuseppe La Rosa; Timothy D. Sullivan; Stewart E. Rauch
John Wiley & Sons Inc (2009)
Kovakantinen kirja
181,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies
181,20 €
John Wiley & Sons Inc
Sivumäärä: 640 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2009, 04.09.2009 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms—from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience. It also offers the first reference book with all relevant physics, equations, and step-by-step procedures for CMOS technology reliability in one place. Practical appendices provide basic experimental procedures that include experiment design, performing stressing in the laboratory, data analysis, reliability projections, and interpreting projections.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologieszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780471731726
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste