SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
ELECTROMAGNETIC MATERIAL CHARACTERIZATION OF A CONDUCTOR-BACKED MATERIAL USING THE TWO LAYER, TWO THICKNESS, AND TWO IRIS WAVEGU | ||
| Electromagnetic Material Characterization of a Conductor-Backed Material Using the Two Layer, Two Thickness, and Two Iris Wavegu 122,60 € Proquest, Umi Dissertation Publishing Sivumäärä: 454 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotteella ei tuotekuvausta. Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781243622235 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |