SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Günter Thieme | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy - Status Report from the Fifth International Conference, Würzburg, August 19–23, 1996
Jürgen Thieme; Günter Schmahl; Dietbert Rudolph; Eberhard Umbach
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2014)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Grundwissen Geografie
Veronika Selbach; Dieter Kelletat; Frank Schäbitz; Günter Thieme; Gerhard Bartels
Mentor Verlag GmbH (2006)
Kirja
46,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy - Status Report from the Fifth International Conference, Würzburg, August 19–23, 1996
49,60 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 383 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 1998 ed.
Julkaisuvuosi: 2014, 23.08.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book is based on presentations to the International Conference of X-Ray Micro­ scopy and Spectromicroscopy, XRM 96, which took place in Wiirzburg, August 19- 23, 1996. The conference also celebrated the lOOth anniversary of the discovery of X­ rays by Wilhelm Conrad Rontgen on November 8, 1895, in Wiirzburg. This book contains state-of-the-art reviews and up-to-date progress reports in the field of X-ray microscopy and spectromicroscopy, including related new X-ray optics and X-ray sources. It reflects the lively activities within a relatively new field of science which combines the development of new instruments and methods with their applications to numerous topical scientific questions. The applications range from biological and medical topics, colloid physics, and soil sciences to solid-state physics, material sciences, and surface sciences. Their variety demonstrates the interdisci­ plinary and cooperative character of this field and the growing demand for micro­ scopic and spectromicroscopic information on the nanometer scale and under specific sample conditions, for example in wet (natural) surroundings or on a solid surface.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
X-Ray Microscopy and Spectromicroscopy - Status Report from the Fifth International Conference, Würzburg, August 19–23, 1996
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783642721083
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste