SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Fabrice Meriaudeau | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 8 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIV
Fabrice Meriaudeau; Kurt S. Niel
SPIE Press (2006)
Pehmeäkantinen kirja
223,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Machine Vision Applications in Industrial Inspection XV
Fabrice Meriaudeau; Kurt S. Niel
SPIE Press (2007)
Pehmeäkantinen kirja
223,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Twelfth International Conference on Quality Control by Artificial Vision 2015
Fabrice Meriaudeau; Olivier Aubreton
SPIE Press (2015)
Pehmeäkantinen kirja
152,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Multiresolution and Wavelets
Florence Denis; Olivier Laligant; Fabrice Meriaudeau; Frederic Truchetet
ISTE Ltd and John Wiley & Sons Inc (2016)
Kovakantinen kirja
120,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Sixth International Conference on Quality Control by Artificial Vision
Kenneth W. Tobin; Fabrice Meriaudeau
SPIE Press (2003)
Pehmeäkantinen kirja
239,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIII
Jeffery R. Price; Fabrice Meriaudeau
SPIE Press (2005)
Pehmeäkantinen kirja
223,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Eighth International Conference on Quality Control by Artificial Vision
David Fofi; Fabrice Meriaudeau
SPIE Press (2007)
Pehmeäkantinen kirja
223,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Machine Vision Applications in Industrial Inspection XII
Jeffery R. Price; Fabrice Meriaudeau
SPIE Press (2004)
Pehmeäkantinen kirja
223,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIV
223,90 €
SPIE Press
Sivumäärä: 280 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: Illustrated edition
Julkaisuvuosi: 2006, 30.01.2006 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Machine Vision Applications in Industrial Inspection XIV
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819461100
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste