KIRJAUDU
Eugene R. Hnatek | Akateeminen Kirjakauppa
| Digital Integrated Circuit Testing from a Quality Perspective 101,40 € Van Nostrand Reinhold Inc.,U.S. Sivumäärä: 180 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 1993 ed. Julkaisuvuosi: 1993, 31.08.1993 (lisätietoa) Kieli: Englanti Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
 Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780442006433 Aihealue: |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |