SULJE VALIKKO

avaa valikko

Ernst O. G | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Quantum Metrology
Ernst O. Gö bel; Uwe Siegner
Wiley VCH (2015)
Muu digitaalinen tallenne
131,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Benefiting from Thermal and Mechanical Simulation in Micro-Electronics
G.Q. Zhang (ed.); L.J. Ernst (ed.); O. de Saint Leger (ed.)
Springer (2000)
Kovakantinen kirja
101,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Benefiting from Thermal and Mechanical Simulation in Micro-Electronics
G.Q. Zhang (ed.); L.J. Ernst (ed.); O. de Saint Leger (ed.)
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
101,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Quantum Metrology
131,10 €
Wiley VCH
Sivumäärä: 232 sivua
Asu: Muu digitaalinen tallenne
Julkaisuvuosi: 2015, 12.06.2015 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Quantum Metrology
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783527680887
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste