SULJE VALIKKO

avaa valikko

Edward B Hakim | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



(Ipf)Microelectronic Reliability
Edward B Hakim
Artech House Publishers (1989)
Kovakantinen kirja
166,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability - A Physics of Failure Approach
Pradeep Lall; Michael G. Pecht; Edward B. Hakim
Taylor & Francis Inc (1997)
Kovakantinen kirja
139,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability - A Physics of Failure Approach
Pradeep Lall; Michael G. Pecht; Edward B. Hakim
Taylor & Francis Ltd (2019)
Pehmeäkantinen kirja
51,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
(Ipf)Microelectronic Reliability
166,60 €
Artech House Publishers
Sivumäärä: 396 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1989, 31.01.1989 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Artech House Materials Science
Text/reference spaning the theoretical concepts of reliability models and failure distributions, to GaAs microcircuit processing and test. Provides background on the development of quality assurance and verification procedures. Some of the new changes under development to cope with pressures brought

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 2-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 04.12.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
(Ipf)Microelectronic Reliabilityzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780890062845
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste