SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
SELECTED PAPERS ON OPTICAL METHODS IN SURFACE METROLOGY | ||
| Selected Papers on Optical Methods in Surface Metrology 242,00 € SPIE Milestones are collections of seminal papers from the world literature covering important discoveries and developments in optics and photonics. Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780819497512 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |