SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
THE DEVELOPMENT OF AN X-RAY-DIFFRACTION STRAIN-MEASUREMENT TECHNIQUE AND ITS APPLICATION TO MICROMECHANICAL-DEFORMATION MODES. | ||
| The Development of an X-Ray-Diffraction Strain-Measurement Technique and Its Application to Micromechanical-Deformation Modes. 133,90 € Proquest, Umi Dissertation Publishing Sivumäärä: 102 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotteella ei tuotekuvausta. Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781243545527 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |