SULJE VALIKKO

avaa valikko

Daniele Cocco | Akateeminen Kirjakauppa

8TH INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON ADVANCED OPTICAL MANUFACTURING AND TESTING TECHNOLOGIES - SUBNANOMETER ACCURACY MEASUREMENT FOR S

8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies - Subnanometer Accuracy Measurement for S
Shinan Qian; Mourad Idir; Daniele Cocco; Tigiao Xiao; Kazuto Yamauchi
SPIE Press (2016)
Saatavuus: Tulossa!
Pehmeäkantinen kirja
159,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies - Subnanometer Accuracy Measurement for S
159,30 €
SPIE Press
Sivumäärä: 126 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2016, 30.12.2016 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
28.02.2017 Kustantajan ilmoittama saatavuuspäivä on ylittynyt, selvitämme saatavuutta. Voit tehdä tilauksen heti ja toimitamme tuotteen kun saamme sen varastoomme. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
8th International Symposium on Advanced Optical Manufacturing and Testing Technologies - Subnanometer Accuracy Measurement for S
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781628419221
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste