SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

D. Gracia Nirmala Rani | Akateeminen Kirjakauppa

VLSI DESIGN AND TEST - 22ND INTERNATIONAL SYMPOSIUM, VDAT 2018, MADURAI, INDIA, JUNE 28-30, 2018, REVISED SELECTED PAPERS

VLSI Design and Test - 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
S. Rajaram; N.B. Balamurugan; D. Gracia Nirmala Rani; Virendra Singh
Springer Verlag, Singapore (2019)
Pehmeäkantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
VLSI Design and Test - 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Papers
97,90 €
Springer Verlag, Singapore
Sivumäärä: 722 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 1st ed. 2019
Julkaisuvuosi: 2019, 25.01.2019 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Communications in Computer and Information Science 892
This book constitutes the refereed proceedings of the 22st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2018, held in Madurai, India, in June 2018.
The 39 full papers and 11 short papers presented together with 8 poster papers were carefully reviewed and selected from 231 submissions. The papers are organized in topical sections named: digital design; analog and mixed signal design; hardware security; micro bio-fluidics; VLSI testing; analog circuits and devices; network-on-chip; memory; quantum computing and NoC; sensors and interfaces.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
VLSI Design and Test - 22nd International Symposium, VDAT 2018, Madurai, India, June 28-30, 2018, Revised Selected Paperszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste