SULJE VALIKKO

avaa valikko

Chunxia Li | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 7 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



A Study on Gate Dielectrics for GE Mos Devices
Chunxia Li; 李春霞
Open Dissertation Press (2017)
Pehmeäkantinen kirja
105,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
A Study on Gate Dielectrics for GE Mos Devices
Chunxia Li; 李春霞
Open Dissertation Press (2017)
Kovakantinen kirja
123,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Photofunctional Nanomaterials for Biomedical Applications
Chunxia Li; Jun Lin
Wiley-VCH Verlag GmbH (2025)
Kovakantinen kirja
148,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Das Konsumverhalten Deutscher Und Chinesischer Studenten - Eine Kulturvergleichende Studie
Chunxiao Li
Peter Lang AG (2010)
Pehmeäkantinen kirja
79,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Frontiers in Cyber Security - First International Conference, FCS 2018, Chengdu, China, November 5-7, 2018, Proceedings
Fagen Li; Tsuyoshi Takagi; Chunxiang Xu; Xiaosong Zhang
Springer Verlag, Singapore (2018)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Fine Scale Characterization of Shale Reservoirs - Methods and Challenges
Mehdi Ostadhassan; Kouqi Liu; Chunxiao Li; Seyedalireza Khatibi
Springer International Publishing AG (2018)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Non-Newtonian Fluids - A Dynamical Systems Approach
Boling Guo; Chunxiao Guo; Yaqing Liu; Qiaoxin Li
De Gruyter (2018)
Kovakantinen kirja
217,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
A Study on Gate Dielectrics for GE Mos Devices
105,40 €
Open Dissertation Press
Sivumäärä: 180 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2017, 28.01.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
A Study on Gate Dielectrics for GE Mos Deviceszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781374803626
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste