Chun-Chen Yeh | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

ADVANCED CHARGE TRAP MEMORY: STACK DESIGN AND CELL CHARACTERIZATION.

Chun-Chen Yeh
Proquest, Umi Dissertation Publishing (2011)
Pehmeäkantinen kirja

121,00 €

FOUNDATIONS OF PREDICTION MARKETS : MODELING, SIMULATION, AND EMPIRICAL EVIDENCE

Shu-Heng Chen; Chen-Yuan Tung; Jason Yeh; Bin-Tzong Chie; Chung-Ching Tai; Hung-Wen Lin
Springer (2025)
Kovakantinen kirja

97,90 €

Advanced Charge Trap Memory: Stack Design and Cell Characterization.

Chun-Chen Yeh

121,00 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 172 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243577047

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste