SULJE VALIKKO

avaa valikko

Brian S.R. Armstrong | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy
José A. Gutierrez; Brian S.R. Armstrong
Springer (2007)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy
José A. Gutierrez; Brian S.R. Armstrong
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry
Jos a. Gutierrez; Brian S. R. Armstrong
SPRINGER VERLAG GMBH (2008)
Pehmeäkantinen kirja
64,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracy
97,90 €
Springer
Sivumäärä: 162 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2008
Julkaisuvuosi: 2007, 23.10.2007 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

The applications of image-based measurement are many and various: image-guided surgery, mobile-robot navigation, component alignment and photogrammetry, among others.


This book addresses the problem of measurement error associated with determining the location of landmarks in images. The least possible photogrammetric uncertainty in a given situation is determined using the Cramér–Rao Lower Bound (CRLB).


This monograph provides the reader with: the most complete treatment to date of precision landmark location and the engineering aspects of image capture and processing; detailed theoretical treatment of the CRLB; a software tool for analyzing the potential performance-specific camera/lens/algorithm configurations; two novel algorithms which achieve precision very close to the CRLB; a method for determining the accuracy of landmark location; a downloadable MATLAB® package to assist the reader with applying theoretically-derived results to practical engineering configurations.



Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Precision Landmark Location for Machine Vision and Photogrammetry : Finding and Achieving the Maximum Possible Accuracyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste