SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Brian P Kelly | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Local Electrode Atom Probe Tomography - A User's Guide
David J. Larson; Ty J. Prosa; Robert M. Ulfig; Brian P. Geiser; Thomas F. Kelly
Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Kovakantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Local Electrode Atom Probe Tomography - A User's Guide
David J. Larson; Ty J. Prosa; Robert M. Ulfig; Brian P. Geiser; Thomas F. Kelly
Springer-Verlag New York Inc. (2016)
Pehmeäkantinen kirja
147,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atomic-Scale Analytical Tomography - Concepts and Implications
Thomas F. Kelly; Brian P. Gorman; Simon P. Ringer
Cambridge University Press (2022)
Kovakantinen kirja
138,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Estimated Flood-Inundation Mapping for the Upper Blue River, Indian Creek, and Dyke Branch in Kansas City, Missouri, 2006-08 - U
Yong Sin Kim; Brian P Kelly; Richard J Huizinga
Bibliogov (2011)
Pehmeäkantinen kirja
121,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Local Electrode Atom Probe Tomography - A User's Guide
172,80 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 318 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2013 ed.
Julkaisuvuosi: 2013, 07.12.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book is the first, single-source guide to successful experiments using the local electrode atom probe (LEAP®) microscope. Coverage is both comprehensive and user friendly, including the fundamentals of preparing specimens for the microscope from a variety of materials, the details of the instrumentation used in data collection, the parameters under which optimal data are collected, the current methods of data reconstruction, and selected methods of data analysis. Tricks of the trade are described that are often learned only through trial and error, allowing users to succeed much more quickly in the challenging areas of specimen preparation and data collection. A closing chapter on applications presents selected, state-of-the-art results using the LEAP microscope.

Foreword by: Professor Sir Colin J. Humphreys

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Local Electrode Atom Probe Tomography - A User's Guide
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781461487203
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste