KIRJAUDU
Brian Gregory Burke | Akateeminen Kirjakauppa
DEEP UV PHOTOLITHOGRAPHY AND CHARACTERIZATION OF DOPED SILICON AND ENDOHEDRAL FULLERENES BY RAMAN SPECTROSCOPY. | ||
| Deep UV Photolithography and Characterization of Doped Silicon and Endohedral Fullerenes by Raman Spectroscopy. 121,00 € Proquest, Umi Dissertation Publishing Sivumäärä: 162 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2011, 01.10.2011 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotteella ei tuotekuvausta. Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781244733909 Aihealue: | |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |