SULJE VALIKKO

avaa valikko

Arnon M. Hurwitz | Akateeminen Kirjakauppa

RUN-TO-RUN CONTROL IN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING

Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing
James Moyne; Enrique del Castillo; Arnon M. Hurwitz
Taylor & Francis Inc (2000)
Kovakantinen kirja
207,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturing
207,00 €
Taylor & Francis Inc
Sivumäärä: 366 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2000, 30.11.2000 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Run-to-run (R2R) control is cutting-edge technology that allows modification of a product recipe between machine "runs," thereby minimizing process drift, shift, and variability-and with them, costs. Its effectiveness has been demonstrated in a variety of processes, such as vapor phase epitaxy, lithography, and chemical mechanical planarization. The only barrier to the semiconductor industry's widespread adoption of this highly effective process control is a lack of understanding of the technology. Run to Run Control in Semiconductor Manufacturing overcomes that barrier by offering in-depth analyses of R2R control.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Run-to-Run Control in Semiconductor Manufacturingzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780849311789
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste