Arkan Abdulrahman | Akateeminen Kirjakauppa

TEST PATTERN GENERATION TECHNIQUES THAT TARGET LOW TEST APPLICATION TIME.

Arkan Abdulrahman
Proquest, Umi Dissertation Publishing (2011)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja

131,40 €

Test Pattern Generation Techniques That Target Low Test Application Time.

Arkan Abdulrahman

131,40 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 108 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243494634

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste