SULJE VALIKKO

avaa valikko

Allan H Johnston | Akateeminen Kirjakauppa

RELIABILITY AND RADIATION EFFECTS IN COMPOUND SEMICONDUCTORS

Reliability And Radiation Effects In Compound Semiconductors
Allan H Johnston
World Scientific Publishing Co Pte Ltd (2010)
Kovakantinen kirja
143,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability And Radiation Effects In Compound Semiconductors
143,70 €
World Scientific Publishing Co Pte Ltd
Sivumäärä: 376 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 28.04.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book focuses on reliability and radiation effects in compound semiconductors, which have evolved rapidly during the last 15 years. It starts with first principles, and shows how advances in device design and manufacturing have suppressed many of the older reliability mechanisms.It is the first book that comprehensively covers reliability and radiation effects in optoelectronic as well as microelectronic devices. It contrasts reliability mechanisms of compound semiconductors with those of silicon-based devices, and shows that the reliability of many compound semiconductors has improved to the level where they can be used for ten years or more with low failure rates.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Reliability And Radiation Effects In Compound Semiconductorszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9789814277105
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste