KIRJAUDU

ostoskori

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Ali Khounsary | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 28 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

ADVANCES IN X-RAY/EUV OPTICS AND COMPONENTS II

Ali M. Khounsary; Christian Morawe; Shunji Goto
SPIE Press (2007)
Pehmeäkantinen kirja

224,80 €

ADVANCES IN X-RAY/EUV OPTICS AND COMPONENTS III

Ali M. Khounsary; Christian Morawe; Shunji Goto
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja

224,80 €

HIGH-HEAT FLUX ENGINEERING - 21-23 JULY 1992, SAN DIEGO, CALIFORNIA

Ali M. Khounsary
SPIE Press (2006)
Pehmeäkantinen kirja

191,00 €

ADVANCES IN LABORATORY-BASED X-RAY SOURCES AND OPTICS II

Ali M. Khounsary; Carolyn A. MacDonald
SPIE Press (2001)
Pehmeäkantinen kirja

147,50 €

ADVANCES IN LABORATORY-BASED X-RAY SOURCES AND OPTICS III

Ali M. Khounsary; Carolyn A. Macdonald
SPIE Press (2002)
Pehmeäkantinen kirja

147,50 €

ADVANCES IN MIRROR TECHNOLOGY FOR X-RAY, EUV LITHOGRAPHY, LASER AND OTHER APPLICATIONS

Ali M. Khounsary; Udo Dinger; Kazuya Ota
SPIE Press (2003)
Pehmeäkantinen kirja

224,80 €

ADVANCES IN MIRROR TECHNOLOGY FOR X-RAY, EUV LITHOGRAPHY, LASER, AND OTHER APPLICATIONS: II

Ali M. Khounsary; Udo Dinger; Kazuya Ota
SPIE Press (2004)
Pehmeäkantinen kirja

147,50 €

ADVANCES IN X-RAY/EUV OPTICS, COMPONENTS AND APPLICATIONS

Ali M. Khounsary; Christian Morawe
SPIE Press (2006)
Pehmeäkantinen kirja

224,80 €

ADAPTIVE X-RAY OPTICS - 2-5 AUGUST 2010, SAN DIEGO, CALIFORNIA, UNITED STATES

Ali M. Khounsary
SPIE Press (2010)
Pehmeäkantinen kirja

125,10 €

ADVANCES IN X-RAY/EUV OPTICS AND COMPONENTS VIII

Ali M. Khounsary
SPIE Press (2013)
Pehmeäkantinen kirja

136,90 €

ADAPTIVE X-RAY OPTICS: VOLUME II - 14 AUGUST 2012, SAN DIEGO, CALIFORNIA, UNITED STATES

Ali M. Khounsary
SPIE Press (2012)
Pehmeäkantinen kirja

110,50 €

ADVANCES IN LABORATORY-BASED X-RAY SOURCES, OPTICS, AND APPLICATIONS IV

Ali Khounsary; Carolyn MacDonald
SPIE Press (2015)
Pehmeäkantinen kirja

136,80 €

ADVANCES IN X-RAY/EUV OPTICS AND COMPONENTS XI

Ali M. Khounsary; Shunji Goto; Christian Morawe
SPIE Press (2017)
Pehmeäkantinen kirja

210,00 €

ADVANCES IN LABORATORY-BASED X-RAY SOURCES, OPTICS, AND APPLICATIONS V

Ali M. Khounsary; Gert E. van Dorssen
SPIE Press (2017)
Pehmeäkantinen kirja

162,30 €

ADVANCES IN LABORATORY-BASED X-RAY SOURCES, OPTICS, AND APPLICATIONS VI

Ali Khounsary; Giovanni Pareschi
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

110,50 €

ADVANCES IN LABORATORY-BASED X-RAY SOURCES AND OPTICS

Carolyn A. MacDonald; Ali M. Khounsary
SPIE Press (2000)
Pehmeäkantinen kirja

148,50 €

ADVANCES IN X-RAY OPTICS

Andreas K. Freund; Tetsuya Ishikawa; Ali M. Khounsary; Derrick C. Mancini; A. G. Michette; Sebastian Oestreich
SPIE Press (2001)
Pehmeäkantinen kirja

183,50 €

X-RAY MIRRORS, CRYSTALS, AND MULTILAYERS

Andreas K. Freund; Tetsuya Ishikawa; Ali M. Khounsary
SPIE Press (2001)
Pehmeäkantinen kirja

147,50 €

X-RAY MIRRORS, CRYSTALS, AND MULTILAYERS II

Andreas K. Freund; Tetsuya Ishikawa; Ali M. Khounsary
SPIE Press (2002)
Pehmeäkantinen kirja

183,50 €

LASER-GENERATED AND OTHER LABORATORY X-RAY AND EUV SOURCES, OPTICS AND APPLICATIONS

George A. Kyrala; Jean-Claude J. Gauthier; Carolyn A. MacDonald; Ali M. Khounsary
SPIE Press (2003)
Pehmeäkantinen kirja

224,80 €

Hae lisää...

Advances in X-ray/EUV Optics and Components II

Ali M. Khounsary, Christian Morawe, Shunji Goto

224,80 €

SPIE Press
Sivumäärä: 252 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2007, 30.12.2007 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus