SULJE VALIKKO

avaa valikko

Aaron A. Diaz | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Nondestructive Detection and Measurement for Homeland Security III
Aaron A. Diaz; A. Emin Aktan; H. Felix Wu; Steven R. Doctor; Yoseph Bar-Cohen
SPIE Press (2005)
Pehmeäkantinen kirja
220,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nonintrusive Inspection, Structures Monitoring, and Smart Systems for Homeland Security
Aaron A. Diaz
SPIE Press (2006)
Pehmeäkantinen kirja
220,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nondestructive Characterization for Composite Materials, Aerospace Engineering, Civil Infrastructure, and Homeland Security 2008
Peter J. Shull; H. Felix Wu; Aaron A. Diaz; Dietmar W. Vogel
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja
220,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nondestructive Detection and Measurement for Homeland Security III
220,80 €
SPIE Press
Sivumäärä: 172 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2005, 31.05.2005 (lisätietoa)
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Nondestructive Detection and Measurement for Homeland Security III
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819457509
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste