Haullasi löytyi yhteensä 15 tuotettaHaluatko tarkentaa hakukriteerejä? Suosituimmat ensin Aakkosjärjestys Vuosijärjestys Viimeksi lisätyt Viimeksi julkaistut Xiao-Feng Zhang (ed.); Ze Zhang (ed.)
Springer (2010)
Saatavuus:
Tilaustuote Pehmeäkantinen kirja
129,90 €
Zhang ZeHankintapalvelu
42,50 €
Ze Zhang; Mahmoud Rouabhia; Simon E. Moulton
Taylor & Francis Inc (2017)
Saatavuus:
Tilaustuote Kovakantinen kirja
253,50 €
Z.L. Wang; Yi Liu; Ze Zhang
Springer-Verlag New York Inc. (2006)
Saatavuus:
Tilaustuote Moniviestin
1032,70 €
Xiao-Feng Zhang; Ze Zhang
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2001)
Saatavuus:
Tilaustuote Kovakantinen kirja
129,90 €
Xiao-Feng Zhang; Ze Zhang
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2001)
Saatavuus:
Tilaustuote Kovakantinen kirja
97,90 €
Xiao-Feng Zhang (ed.); Ze Zhang (ed.)
Springer (2010)
Saatavuus:
Tilaustuote Pehmeäkantinen kirja
97,90 €
Ze-Li Dou; Qiao ZhangLoppuunmyyty
84,00 €
Ze-Zhao Hua; Hua Zhang; Bao-Lin Liu; Shen-Yi WuPainos loppu
47,90 €
Z.L. Wang; Yi Liu; Ze Zhang
Springer Science+Business Media (2002)
Saatavuus:
Tilaustuote Kovakantinen kirja
430,20 €
Deng-Yun Yu; Ze-Zhou Sun; He Zhang
Springer Verlag, Singapore (2021)
Saatavuus:
Tilaustuote Kovakantinen kirja
155,60 €
Ze Zhang; Mahmoud Rouabhia; Simon E. Moulton
Taylor & Francis Ltd (2021)
Saatavuus:
Tilaustuote Pehmeäkantinen kirja
62,90 €
Litao Sun; Tao Xu; Ze Zhang
Springer Verlag, Singapore (2023)
Saatavuus:
Tilaustuote Kovakantinen kirja
138,50 €
Deng-Yun Yu; Ze-Zhou Sun; He Zhang
Springer Verlag, Singapore (2022)
Saatavuus:
Tilaustuote Pehmeäkantinen kirja
155,60 €
Litao Sun; Tao Xu; Ze Zhang
Springer Verlag, Singapore (2024)
Saatavuus:
Tilaustuote Pehmeäkantinen kirja
138,50 €
Progress in Transmission Electron Microscopy 1 : Concepts and Techniques
Springer Sivumäärä: 367 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2010, 01.12.2010 (lisätietoa ) Kieli: Englanti Transmission electron microscopy (TEM) is now recognized as a crucial tool in materials science. This book, authored by a team of expert Chinese and international authors, covers many aspects of modern electron microscopy, from the architecture of novel electron microscopes, advanced theories and techniques in TEM and sample preparation, to a variety of hands-on examples of TEM applications. Volume I concentrates on the newly developed concepts and methods which are making TEM a powerful and indispensible tool in materials science.
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä
