KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
Wai Chim | Akateeminen Kirjakauppa
| Semiconductor Device and Failure Analysis - Using Photon Emission Microscopy 220,70 € John Wiley & Sons Inc Sivumäärä: 288 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 2000, 10.11.2000 (lisätietoa) Kieli: Englanti Integrierte Schaltkreise werden immer komplexer - deshalb wird es zunehmend schwieriger, Fehler schnell und treffsicher aufzuspüren. Die Photonenemissionsmikroskopie (PEM) ist eine Analysetechnik auf physikalischer Grundlage, die sich als Fehlererkennungsmethode bewährt hat. Dieser Band erläutert alle Aspekte dieser Methode, von der instrumentellen Ausrüstung über spezifische Details der Mikroskope bis hin zu Merkmalen der Photonenemission unter verschiedenen Bedingungen. (11/00) Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
 Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780471492405 Aihealue: |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |