SULJE VALIKKO

avaa valikko

S.L. Whelan | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



High Energy Electron Diffraction and Microscopy
L.M. Peng; S.L. Dudarev; M.J. Whelan
Oxford University Press (2004)
Kovakantinen kirja
165,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
High Energy Electron Diffraction and Microscopy
L.M. Peng; S.L. Dudarev; M.J. Whelan
Oxford University Press (2011)
Pehmeäkantinen kirja
94,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Classification Internationale Des Maladies Pour l'Oncologie (CIM-O-3)
C. Percy; A. Fritz; A. Jack; S. Shanmugarathan; L. Sobin; D M Parkin; S. Whelan
World Health Organization (2009)
Pehmeäkantinen kirja
134,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Cancer Incidence in Five Continent: v.8
D.M. Parkin; S.L. Whelan; J. Ferlay; L. Teppo; D.B. Thomas
Oxford University Press (2003)
Moniviestin
249,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
High Energy Electron Diffraction and Microscopy
165,50 €
Oxford University Press
Sivumäärä: 558 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: Hardback
Julkaisuvuosi: 2004, 08.01.2004 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Monographs on the Physics and Chemistry of Materials 61
This book provides the reader with a comprehensive introduction to high energy electron diffraction and elastic and inelastic scattering of high energy electrons, with particular emphasis on applications to modern electron microscopy. Starting from a survey of fundamental phenomena, the authors introduce the most important concepts underlying modern understanding of high energy electron diffraction. Dynamical diffraction in transmission (THEED) and reflection (RHEED) geometries is treated using a general matrix theory, where computer programs and worked examples are provided to illustrate the concepts and to familiarize the reader with practical applications. Diffuse and inelastic scattering and coherence effects are treated comprehensively both as a perturbation of elastic scattering and within the general multiple scattering quantum mechanical framework of the density matrix method. Among the highlights are the treatment of resonance diffraction of electrons, HOLZ diffraction, the formation of Kikuchi bands and lines and ring patterns, and application of diffraction to monitoring of growing surfaces. Useful practical data are summarised in tables including those of electron scattering factors for all the neutral atoms and many ions, and the temperature dependent Debye-Waller factors given for over 100 elemental crystals and compounds.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
High Energy Electron Diffraction and Microscopyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780198500742
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste