KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Patrick Echlin | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 13 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS

Tekijä: Goldstein Joseph Goldstein; Newbury Dale E. Newbury; Echlin Patrick Echlin
Kustantaja: Springer Nature B.V. (2013)
Saatavuus: Ei tiedossa

EUR 106,20

LOW-TEMPERATURE MICROSCOPY AND ANALYSIS

Tekijä: Patrick Echlin
Kustantaja: Springer Science+Business Media (1992)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 172,80

HANDBOOK OF SAMPLE PREPARATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS

Tekijä: Patrick Echlin
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2009)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 121,30

HANDBOOK OF SAMPLE PREPARATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS

Tekijä: Patrick Echlin
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2010)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 121,30

HANDBOOK OF SAMPLE PREPARATION FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS

Tekijä: Patrick Echlin
Kustantaja: SPRINGER VERLAG GMBH (2009)
Saatavuus: Ei tiedossa

EUR 65,00

ADVANCED SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS

Tekijä: Patrick Echlin; C.E. Fiori; Joseph Goldstein; David C. Joy; Dale E. Newbury
Kustantaja: Springer Science+Business Media (1986)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 147,10

ADVANCED SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS

Tekijä: Patrick Echlin; C.E. Fiori; Joseph Goldstein; David C. Joy; Dale E. Newbury
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 97,90

LOW-TEMPERATURE MICROSCOPY AND ANALYSIS

Tekijä: Patrick Echlin
Kustantaja: Springer (2013)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 172,80

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS - THIRD EDITION

Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; David C. Joy; Charles E. Lyman; Patrick Echlin; Eric Lifshin; Linda Sawyer; J Michael
Kustantaja: Springer Science+Business Media (2003)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 107,50

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS - A TEXT FOR BIOLOGISTS, MATERIALS SCIENTISTS, AND GEOLOGISTS

Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Lif
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2011)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 97,90

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS - THIRD EDITION

Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; David C. Joy; Charles E. Lyman; Patrick Echlin; Eric Lifshin; Linda Sawyer; J Michael
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 107,50

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS - A TEXT FOR BIOLOGISTS, MATERIALS SCIENTISTS, AND GEOLOGISTS

Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää

EUR 97,90

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND X-RAY MICROANALYSIS

Tekijä: Joseph I. Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; D.C. Joy
Kustantaja: Kluwer Academic Publishers Group (1992)
Saatavuus: Ei tiedossa

EUR 125,20

Hae lisää...

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

Goldstein Joseph Goldstein, Newbury Dale E. Newbury, Echlin Patrick Echlin

106,20 €

Springer Nature B.V.
Sivumäärä: 692 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2013, 02.06.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus