Ove Steinvall | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 8 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

ELECTRO-OPTICAL REMOTE SENSING, DETECTION, AND PHOTONIC TECHNOLOGIES AND THEIR APPLICATIONS

Gary W. Kamerman; Ove K. Steinvall; Keith L. Lewis; Keith A. Krapels; John C. Carrano; Arturas Zukauskas
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja

223,10 €

ELECTRO-OPTICAL REMOTE SENSING, PHOTONIC TECHNOLOGIES, AND APPLICATIONS II

Gary W. Kamerman; Ove K. Steinvall; Keith L. Lewis; Thomas J. Merlet; Richard C. Hollins
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja

223,10 €

ELECTRO-OPTICAL REMOTE SENSING II

Gary W. Kamerman; David V. Willetts; Ove K. Steinvall
SPIE Press (2006)
Pehmeäkantinen kirja

223,10 €

ELECTRO-OPTICAL REMOTE SENSING, PHOTONIC TECHNOLOGIES, AND APPLICATIONS VIII; AND MILITARY APPLICATIONS IN HYPERSPECTRAL IMAGING

Gary Kamerman; Gary Bishop; Ainsley Killey; Ove Steinvall; John Gonglewski
SPIE Press (2014)
Pehmeäkantinen kirja

135,30 €

ELECTRO-OPTICAL REMOTE SENSING, PHOTONIC TECHNOLOGIES, AND APPLICATIONS IX

Gary Kamerman; Ove Steinvall; Keith Lewis
SPIE Press (2015)
Pehmeäkantinen kirja

174,90 €

ELECTRO-OPTICAL REMOTE SENSING X

Gary Kamerman; Ove Steinvall
SPIE Press (2017)
Pehmeäkantinen kirja

129,00 €

ELECTRO-OPTICAL REMOTE SENSING XI

Gary Kamerman; Ove Steinvall
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

182,20 €

ELECTRO-OPTICAL REMOTE SENSING XII

Gary Kamerman; Ove Steinvall
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

122,60 €

Electro-optical Remote Sensing, Detection, and Photonic Technologies and Their Applications

Gary W. Kamerman, Ove K. Steinvall, Keith L. Lewis, Keith A. Krapels, John C. Carrano, Arturas Zukauskas

223,10 €

SPIE Press
Sivumäärä: 414 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2008, 30.03.2008 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus