SULJE VALIKKO

avaa valikko

Michael Postek | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 14 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



New Research in Nanotechnology
Michael T Postek; Joseph Kopanski; David Wollman
Nova Science Publishers Inc (2011)
Kovakantinen kirja
170,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing
Michael T. Postek; John A. Allgair
SPIE Press (2007)
Pehmeäkantinen kirja
224,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing II
Michael T. Postek; John A. Allgair
SPIE Press (2008)
Pehmeäkantinen kirja
224,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Microscopy 2010
Michael T. Postek
SPIE Press (2010)
Pehmeäkantinen kirja
261,10
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Microscopies 2011 - Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and
Michael T. Postek
SPIE Press (2011)
Pehmeäkantinen kirja
194,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VII
Michael T. Postek
SPIE Press (2013)
Pehmeäkantinen kirja
135,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Microscopies 2014
Michael Postek; Dale Newbury; S. Frank Platek; Tim Maugel
SPIE Press (2014)
Pehmeäkantinen kirja
224,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors VIII
Michael Postek
SPIE Press (2014)
Pehmeäkantinen kirja
135,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Instrumentation, Metrology, and Standards for Nanomanufacturing, Optics, and Semiconductors V - 24-25 August 2011, San Diego, Ca
Michael T. Postek
SPIE Press (2011)
Pehmeäkantinen kirja
155,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Microscopies 2015
Michael T. Postek; Dale Newbury; S. Frank Platek; Tim Maugel
SPIE Press (2015)
Pehmeäkantinen kirja
175,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Nanostructure Science, Metrology and Technology
Martin Peckerar; Michael T Postek
SPIE Press (2002)
Pehmeäkantinen kirja
165,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Scanning Microscopie 2013 - Advanced Microscopy Technologies for Defense, Homeland Security, Forensic, Life, Environmental, and
Dale Newbury; S. Frank Platek; Michael T. Postek; Tim Maugel
SPIE Press (2013)
Pehmeäkantinen kirja
155,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
New Research in Nanotechnology
170,40 €
Nova Science Publishers Inc
Sivumäärä: 282 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 26.10.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The National Institute of Standards and Technology (NIST) is the nation's measurement and standards laboratory, established by the U.S. Congress in 1901. Today, NIST's mission is to promote U.S. innovation and industrial competitiveness by advancing measurement science, standards and technology in ways that enhance economic security and improve our quality of life. To enable accurate and precise measurements at the nanoscale, NIST is conducting scientific research in fundamental nanoscale properties, developing appropriate standards and is providing calibrations and traceability to basic standard international (SI) units. This book examines current research in the study of nanotechnology, as well as various techniques established by the NIST.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
New Research in Nanotechnologyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781607411352
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste